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軸類光學(xué)測量儀以其高精度、高效率、易操作等性能，在機(jī)械零件的精密測量中發(fā)揮著重要作用。其毫米級精準(zhǔn)度的實現(xiàn)離不開先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)和精密的干涉儀設(shè)計，而高效率與易操作性則得益于儀器的智能化設(shè)計和人性化操作界面。

軸類光學(xué)測量儀以其高精度、高效率、非接觸式測量等特點，在多個領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用，成為現(xiàn)代制造業(yè)的核心工具。了解和掌握軸類光學(xué)測量儀的技術(shù)和應(yīng)用，對于提升制造業(yè)的競爭力和實現(xiàn)可持續(xù)發(fā)展具有重要意義。

軸類光學(xué)測量儀主要基于光的干涉、衍射和反射等現(xiàn)象。儀器通過發(fā)射一束或多束激光到待測軸類零件表面，接收反射回來的光信號，并經(jīng)過光電轉(zhuǎn)換和信號處理，得到零件的尺寸、形狀等信息。這種非接觸式測量方法避免了傳統(tǒng)接觸式測量可能帶來的劃傷、磨損等問題，保證了測量的準(zhǔn)確性和可靠性。

軸類光學(xué)測量儀Opticline系列具有微米級別甚至納米級的測量精度，能夠滿足高精度測量的需求。能夠測量多種尺寸參數(shù)，包括直徑、長度、圓度、圓柱度、同軸度等，以及形位公差。